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【ITBEAR】近日，華為技術有限公司在知識產權領域取得新進展。據國家知識產權局發布的消息，華為成功獲得了一項名為“基于視覺的體積測量方法及終端設備”的專利，該專利的授權公告號為CN 113538321 B。這項專利的申請日期可以追溯到2020年3月。

華為此項專利的獲批，無疑將進一步鞏固其在技術創新和知識產權保護方面的領先地位。