長(zhǎng)江存儲(chǔ)日前新增多條專利信息，其中一條名稱為“集成電路測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法”，公布號(hào)為CN115078971A。
專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N集成電路測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法。包括：接收第一指令，第一指令指示對(duì)至少一個(gè)目標(biāo)被測(cè)器件執(zhí)行測(cè)試操作；響應(yīng)于第一指令，產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)集和選擇信號(hào)；基于選擇信號(hào)，結(jié)合第一映射表，確定多個(gè)被測(cè)器件組中每個(gè)測(cè)試通道的狀態(tài)，狀態(tài)包括使能狀態(tài)、去使能狀態(tài)其中之一；第一映射表包括測(cè)試通道與被測(cè)器件組、被測(cè)器件的待控管腳、選擇信號(hào)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；每個(gè)被測(cè)器件組中的每個(gè)被測(cè)器件均具有對(duì)應(yīng)的選擇信號(hào)；根據(jù)驅(qū)動(dòng)信號(hào)集，結(jié)合第二映射表，使得測(cè)試通道輸出驅(qū)動(dòng)信號(hào)；第二映射表包括多個(gè)被測(cè)器件的多個(gè)待控管腳與驅(qū)動(dòng)信號(hào)集中的多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；利用驅(qū)動(dòng)信號(hào)，對(duì)目標(biāo)被測(cè)器件執(zhí)行測(cè)試操作。
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